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日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀

產(chǎn)品型號: PVE-80

所屬分類:其他設備

產(chǎn)品時間:2025-05-03

簡要描述:日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80
一種非接觸式電阻測量系統(tǒng),使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理,可在不損壞樣品的情況下進行測量。

詳細說明:

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80

產(chǎn)品特點

  • 一種非接觸式電阻測量系統(tǒng),使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理,可在不損壞樣品的情況下進行測量。

  • 節(jié)省空間的設計主體外殼,便攜式可移動臺

  • 通過PC(軟件)進行簡單的測量操作,數(shù)據(jù)存儲和管理

  • 測量顯示單元可以根據(jù)應用(薄層電阻,電導率,電導率)進行更改

    *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學聯(lián)合開發(fā)的脈沖電壓激勵方法(專li號5386394)。

測量規(guī)格

測量目標

與新材料/功能材料相關(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)與
導電薄膜相關(金屬,ITO等)
與化合物半導體相關(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查詢)請給我)

測量尺寸

?A4尺寸(W300 x D210mm)

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

 

 



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