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日本sasaki koki非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22 半導(dǎo)體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
日本CAPTAIN六角形超聲波測(cè)厚儀UTP-47.10 先進(jìn)的車(chē)載測(cè)量技術(shù)， 使用超聲波自動(dòng)測(cè)量工件的厚度
日本CAPTAIN六角形超聲波測(cè)厚儀RWP20.50-UTP-WET 飛機(jī)零件的后處理厚度控制是重要的過(guò)程。 當(dāng)前，使用手提型超聲波測(cè)厚儀，并且人手動(dòng)測(cè)量并記錄該值。 由于測(cè)量大型工件（例如飛機(jī)機(jī)體）的厚度需要幾個(gè)小時(shí)，因此自動(dòng)測(cè)量飛機(jī)上工件厚度的探測(cè)系統(tǒng)可以大大提高生產(chǎn)率。
日本nanogray β射線(xiàn)測(cè)厚儀SB-1100系列 通常，為了測(cè)量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測(cè)系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測(cè)量。通常使用激光位移計(jì)作為不接觸地測(cè)量厚度的手段，但是如果將激光位移計(jì)安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度，從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測(cè)量是困難的。
日本nanogray X射線(xiàn)測(cè)厚儀SX-1100系列 使用軟X射線(xiàn)（軟X射線(xiàn)）的厚度計(jì)（膜厚度計(jì)）。以非接觸方式（軟X射線(xiàn)）測(cè)量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計(jì)算厚度和密度（基本重量），而不是直接測(cè)量厚度。
