兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器

產(chǎn)品型號： AE-162L

所屬分類：電阻檢測儀

產(chǎn)品時間：2025-05-03

簡要描述：日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L
D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機
0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下）

詳細說明：

日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L

D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機

測量范圍	標準值設(shè)定范圍	測量電流	測量精度^*
測量范圍	標準值設(shè)定范圍	測量電流	慢	快速地
100mΩ	5mΩ-100mΩ	100mA	± 0.02% ± 2a ± 2d	± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	100mA	±0.02%±a±1d以內(nèi)	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	30mA	±0.02%±a±1d以內(nèi)	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	10mA	±0.02%±1d以內(nèi)	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	3mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	50μA
1兆歐	100.1kΩ～1MΩ	5μA		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.5μA	±0.03%±1d以內(nèi)	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ ~ 109MΩ	0.05μA	±0.1%±2d以內(nèi)	────

* D = 位數(shù)，n = 積分時間（毫秒），
% 測量值：α = (100 / 標準設(shè)定值 mΩ) x 0.01%，
絕對值測量值：α = 0（加 ± 1d），
* *屏蔽中的精度狀態(tài)
測量時間外部啟動自由奔跑
慢快速地慢快速地
大約 18 毫秒-400 毫秒。大約 0.7 毫秒-400 毫秒。約30次/秒～
約2次/秒約60次/秒～
約2次/秒

測量時間	外部啟動	自由奔跑
慢	快速地	慢	快速地
大約 18 毫秒-400 毫秒。	大約 0.7 毫秒-400 毫秒。	約30次/秒～約2次/秒	約60次/秒～約2次/秒

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